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23年專注中高端測(cè)試探針生產(chǎn)

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全國(guó)服務(wù)熱線 400-183-6682 138-2745-5688
  • 測(cè)試探針 SP189-A

    測(cè)試探針 SP189-A

    產(chǎn)品名稱:P189-A
    所屬分類:ICT測(cè)試探針
    產(chǎn)品簡(jiǎn)介:3.16mm探針、杯頭彈針、表筆探針、測(cè)試探針、頂針、彈簧針、PCB測(cè)試針、ICT測(cè)試針、測(cè)試架探針
    產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):通過(guò)對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段
    聯(lián)系熱線:400-183-6682

  • 測(cè)試探針套管R189-4S

    測(cè)試探針套管R189-4S

    產(chǎn)品名稱:R189-4S
    所屬分類:ICT測(cè)試探針
    產(chǎn)品簡(jiǎn)介:3.56mm套管、探針套管、彈針、表筆探針、測(cè)試探針、頂針、彈簧針、PCB測(cè)試針、ICT測(cè)試針、測(cè)試架探針
    產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):通過(guò)對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段
    聯(lián)系熱線:400-183-6682

  • 測(cè)試探針 SP189-J

    測(cè)試探針 SP189-J

    產(chǎn)品名稱:P189-J
    所屬分類:ICT測(cè)試探針
    產(chǎn)品簡(jiǎn)介:3.16mm探針、直上圓頭彈針、表筆探針、測(cè)試探針、頂針、彈簧針、PCB測(cè)試針、ICT測(cè)試針、測(cè)試架探針
    產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):通過(guò)對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段
    聯(lián)系熱線:400-183-6682

  • 測(cè)試探針SP189-H

    測(cè)試探針SP189-H

    產(chǎn)品名稱:P189-H
    所屬分類:ICT測(cè)試探針
    產(chǎn)品簡(jiǎn)介:3.16mm探針、梅花頭彈針、表筆探針、測(cè)試探針、頂針、彈簧針、PCB測(cè)試針、ICT測(cè)試針、測(cè)試架探針
    產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):通過(guò)對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段
    聯(lián)系熱線:400-183-6682

  • 測(cè)試探針 SP189-G

    測(cè)試探針 SP189-G

    產(chǎn)品名稱:P189-G
    所屬分類:ICT測(cè)試探針
    產(chǎn)品簡(jiǎn)介:3.16mm探針、平頭彈針、表筆探針、測(cè)試探針、頂針、彈簧針、PCB測(cè)試針、ICT測(cè)試針、測(cè)試架探針
    產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):通過(guò)對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段
    聯(lián)系熱線:400-183-6682

  • 測(cè)試探針 SP189-E

    測(cè)試探針 SP189-E

    產(chǎn)品名稱:P189-E
    所屬分類:ICT測(cè)試探針
    產(chǎn)品簡(jiǎn)介:3.16mm探針、圓錐頭彈針、表筆探針、測(cè)試探針、頂針、彈簧針、PCB測(cè)試針、ICT測(cè)試針、測(cè)試架探針
    產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):通過(guò)對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段
    聯(lián)系熱線:400-183-6682

  • 測(cè)試探針 SP189-D

    測(cè)試探針 SP189-D

    產(chǎn)品名稱:P189-D
    所屬分類:ICT測(cè)試探針
    產(chǎn)品簡(jiǎn)介:3.16mm探針、大圓頭彈針、表筆探針、測(cè)試探針、頂針、彈簧針、PCB測(cè)試針、ICT測(cè)試針、測(cè)試架探針
    產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):通過(guò)對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段
    聯(lián)系熱線:400-183-6682

  • 測(cè)試探針 SP189-B

    測(cè)試探針 SP189-B

    產(chǎn)品名稱:P189-B
    所屬分類:ICT測(cè)試探針
    產(chǎn)品簡(jiǎn)介:3.16mm探針、尖頭彈針、表筆探針、測(cè)試探針、頂針、彈簧針、PCB測(cè)試針、ICT測(cè)試針、測(cè)試架探針
    產(chǎn)品優(yōu)勢(shì):通過(guò)對(duì)在線元器件的電性能及電氣連接進(jìn)行測(cè)試來(lái)檢查生產(chǎn)制造缺陷及元器件不良的一種標(biāo)準(zhǔn)測(cè)試手段
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探針為什么使用一段時(shí)間后電阻值增大?

探針為什么使用一段時(shí)間后電阻值增大?

探針使用一段時(shí)間后電阻值增大,主要有以下幾方面原因:1. 氧化- 當(dāng)探針與空氣或其他氧化劑接觸時(shí),其表面可能會(huì)發(fā)生氧化反應(yīng)。例如,金屬探針在空氣中長(zhǎng)時(shí)間放置,會(huì)與氧氣反應(yīng)生成金屬氧化物,這些氧化物的導(dǎo)電性通常比純金屬差,從而形成絕緣層或高電阻層,導(dǎo)致探針的電阻值增大。- 即使是一些抗氧化性能較好的材料制成的探針,在長(zhǎng)期使用過(guò)程中,也會(huì)逐漸吸附一定量的氧氣或其他氧化性物質(zhì),進(jìn)而改變其表面的化學(xué)組成和電阻率。2. 磨損- 在頻繁使用或與其他物體接觸、摩擦的過(guò)程中,探針的表面會(huì)逐漸磨損。磨損會(huì)破壞探針表面的完整性,使導(dǎo)電通路受損或變窄,增加電流通過(guò)時(shí)的阻力,導(dǎo)致電阻值上升。比如,用于測(cè)試電路板上焊點(diǎn)的探針,在多次接觸焊點(diǎn)后,其尖端可能會(huì)磨損,從而使接觸電阻增大。- 長(zhǎng)期的磨損還可能導(dǎo)致探針表面的粗糙度增加,進(jìn)一步影響

2025-03-11

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